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TestLab Test & solution

MIG(迁移)测试

我们可以用IMV开发的迁移测试器支持您的可靠性测试。

请联系我们,如果您…

  • 您对更精确的迁移测试有要求。
  • 您想在研发阶段进行迁移测试。
  • 现有设施中没有足够的通道
  • 您有在HAST进行超过1000小时的迁移测试的要求。
  • 请向我们咨询有关固定装置的问题

测试产品的例子

  • 基板

    电子基础设施

  • 半导体

    半导体

  • 电动汽车

    电动汽车

  • 电子材料

    电子材料

  • 锂离子电池

    锂离子电池

功能特点

单通道/1电源/1测量电路法测试仪,样品之间无影响

MIG系列每个通道都有独立的应用电源和测量电路,即使一个通道发生迁移,其他通道也完全不受影响。

1个通道的框图

1个通道的框图

监测和控制应用电压

每个通道的各个焊接点的应用电压被持续监测并按照设定值进行控制。

1通道框图

1通道框图

即使是1010Ω及以上的高电阻也能准确地测量!

使用双层有源防护电缆*,可以切断环境噪声和商业嗡嗡声。因此,测量微弱电流的迁移测试的准确性得到了极大的提高。

即使是1010Ω及以上的高电阻也能准确测量!

* 双重主动防护。

用于测量的同轴电缆在测量微小电流时有以下两个问题。

  • (i) 测量线和屏蔽线之间的泄漏电流。
  • (ii) 由于测量线的电阻和屏蔽线之间的电容而对测量产生影响。

我们通过在测量电缆中采用双屏蔽线,同时提供主动防护功能,尽可能地避免这些影响。通过这种结构,内屏蔽线被控制在与测量线相同的电位上,从而抵消了测量线和内屏蔽线之间的电阻和电容的影响。这就消除了上述(1)和(2)的影响。

测试系统

绝缘老化测试仪

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