マイグレーション試験・イオンマイグレーション試験

主な対応規格

試験品対象例

マイグレーションへの対策が必要になる要素

材料

リジット基板、フィルム基板、ガラスクロス、アンダーフィル材、ビルドアップフィルム、樹脂パッケージ、
封止材、絶縁インク、導電材料、接着剤、層間絶縁材料、洗浄液、ソルダーレジスト、カバーレイフィルム

工程

めっき残渣、フラックス残渣、エッチング残渣、異物混入、スルーホール、ビアホール

設計

ファインピッチ(狭い導体間隔)、導体・電極形状、スルーホール間隙、多層基板

マイグレーション試験のイメージ

高温・高湿度環境下で、電圧ストレスを供試体(プリント基板等)にかけながら
絶縁抵抗値を連続してリアルタイム計測します。

評価パターン

プリント基板表面の絶縁抵抗評価のパターンとしては、以下を採用致します。該当しない場合でも、個別仕様にて対応いたします。
※IPC－SM-840準拠

標準パターン

（単位はmm）

パターン	A	B	C
導体幅	0.165	0.318	0.635
導体間隔	0.165	0.318	0.635
重ね代	15.75	15.75	15.75
先端との間げき(d)	5.0以上	5.0以上	5.0以上

微細パターン

パターン	FA	FB	FC
導体幅	50μm	75μm	100μm
導体間隔	50μm	75μm	100μm
重ね代	10.0mm	10.0mm	10.0mm
先端との間げき(d)	5.0mm以上	5.0mm以上	5.0mm以上

設備仕様

特長

特定のサンプルで短絡（ショート）が発生しても、他のサンプルへの電圧降下やノイズ干渉が一切ありません。

MIGシリーズは印加電源、測定回路を各チャンネルに個別搭載しているので1チャンネルでマイグレーショグレーションが発生しても他のチャンネルは一切影響を受けません。

1チャンネル ブロック図

設定通りの正確なストレスを印加し続けることで、試験条件の妥当性を厳格に担保します

チャンネルごとに個別のハンダ付けのポイントでの印加電圧を常時モニタリングし、設定値通りにコントロールしています。

1チャンネル ブロック図

10¹⁰Ω以上の高抵抗も測定。絶縁破壊に至る前の『絶縁抵抗値のわずかな揺らぎ』を逃さずキャッチします

二重構造アクティブガードケーブル※を使用することで、周囲のノイズや商用ハムをカットします。よって微弱な電流を測定するマイグレーション試験の精度が大幅に向上します。

※ 二重アクティブガード

一般的に測定に用いられる同軸ケーブルでは、微小電流を測定する際に下記の2つが問題になることがあります。

• ① 測定ラインとシールド線との間の漏れ電流
• ② 測定ラインの抵抗とシールド線との間の容量による時定数の測定への影響

当社では測定ケーブルに二重シールド線を採用し、さらにアクティブガード機能も持たせることで、この影響を極力回避させています。 この構造では内側のシールド線を測定ラインと同じ電位に保つようコントロールすることで、測定ラインと内側シールド線との間の抵抗・容量の影響を打ち消すことができます。（電位差がなくなるので、電流も流れないし、容量成分を充電する必要もありません。）このことにより、上記①②による測定への影響を排除することができます。

この試験を依頼できるIMVの試験場

新規試験にも積極的に取り組み、他社で実施不可能な試験や高度な試験も、熟練したスタッフが検討し対応いたします。

対応試験

• 振動試験

• • JR中央線「藤野駅」下車。藤野駅よりタクシーで約5分。
    ※タクシー無料：待機しているタクシーにIMVとお伝え下さい。
  • 中央自動車道 相模湖ICから約2Km

• 〒252-0185　神奈川県相模原市緑区日連870

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これから3度以上試験を実施される場合は、試験装置の導入を推奨しています

絶縁劣化評価試験器

お問い合わせ

以下のような担当者が利用されています

• 研究開発段階のマイグレーション試験が行いたい。
• 既設の設備ではチャンネル数が足りない。
• HASTで1,000時間を超えるマイグレーション試験の要求がある。
• 装置を買う予算はないが、マイグレーション試験は行わなければならない。
• 治具の相談をしたい。