ตัวอย่างการทดสอบการสั่นสะเทือนแบบสุ่มย่านความถี่แคบพร้อมการกวาดความถี่
ภาพรวมการทดสอบ
■ วัตถุประสงค์
JIS C 75062-2 “หลอดไฟรถยนต์ – ส่วนที่ 2: ข้อกำหนดด้านประสิทธิภาพ” อธิบายรายการสำหรับการประเมินความต้านทานการสั่นสะเทือนและเงื่อนไขการทดสอบ รวมถึงการทดสอบการสั่นสะเทือนแบบสุ่มย่านความถี่แคบ โดยกวาดความถี่การสั่นสะเทือนเพื่อตรวจสอบว่าแหล่งกำเนิดแสงยังคงอยู่ต่อไปหรือไม่ ทำงานระหว่างและหลังการสั่นสะเทือน
■ EUT
หลอดไฟรถยนต์
สภาพการทดสอบ
JIS C7506-2(2015) ภาคผนวก B ส่วน B1.1.2 เงื่อนไขการทดสอบงานหนัก
1) การทดสอบความถี่: 30 Hz ถึง 1,050 Hz
2) แบนด์วิธ: 100 เฮิรตซ์
3) ช่วงการกวาด: 80 Hz ถึง 1,000 Hz
4) ความเร็วกวาด: 1 อ็อกเทฟ/นาที
5) เวลาในการกวาด: 7.3 นาที
6) สเปกตรัม ASD:
80 Hz ถึง 150 Hz 34.57 m2/s4/Hz
150 Hz ถึง 1000 Hz 8.64 m2/s4/Hz
7) ความอดทนต่อการเร่งความเร็ว: ± 1 dB
8) เวลาในการทดสอบ: 20 ชั่วโมง
รายละเอียดการทดสอบ
การใช้ซอฟต์แวร์สำหรับการทดสอบแบบสุ่มแบบสุ่ม ระดับ ASD พื้นฐานถูกตั้งค่าไว้ที่ระดับที่น้อยมากเมื่อเทียบกับระดับการทดสอบ
ด้วยการสร้างโปรแกรมที่ซ้อนทับส่วนประกอบการสั่นสะเทือนแบบสุ่มย่านแคบโดยสอดคล้องกับค่าเป้าหมายที่ระบุในมาตรฐานบนการสั่นสะเทือนแบบสุ่มพื้นฐานนี้ เราจึงสามารถบรรลุผลการทดสอบที่กวาดส่วนประกอบการสั่นสะเทือนแบบสุ่มหลอกด้วยแบนด์วิธคงที่
