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Test et solution uniquement pour l'asie

Essais électrochimiques et d’migration ionique

La migration est un phénomène de défaillance électrochimique dans lequel, lorsqu’une tension est appliquée dans un environnement à haute température et à forte humidité, des ions métalliques — tels que le cuivre — se dissolvent, migrent à travers l’isolant et se précipitent.
Cela entraîne la formation de dendrites conductrices entre des fils normalement isolés, ce qui provoque des courts-circuits, des coupures de circuit et une diminution de la résistance d’isolement.

En raison de la miniaturisation, de la densité accrue et des tensions plus élevées des dispositifs électroniques (par exemple, les véhicules électriques et les énergies renouvelables), la distance entre les électrodes diminue, ce qui signifie que le risque de défaillance causée par la
migration est plus élevé que jamais.
Ce test évalue la fiabilité du produit en mesurant en continu et en temps réel la résistance d’isolement tout en appliquant une tension d’essai à l’échantillon (par exemple, un circuit imprimé).
Il joue un rôle essentiel dans la prévention des rappels de produits et des incendies.

Demandes de renseignements

Principales normes d’essai

standard Aperçu Applications
JPCA-ET Norme de l’Association japonaise des circuits et des boîtiers électroniques.
Évalue la fiabilité de l’isolation selon les critères environnementaux rigoureux en vigueur au Japon.
Évaluation standard des circuits imprimés destinés à l’électronique grand public et à l’industrie.
IPC-TM-650 Méthodes d’essai internationales établies par l’IPC (États-Unis). Elles couvrent un large éventail de propriétés physiques, chimiques et électriques des circuits imprimés. Contrôles d’assurance qualité et de conformité pour les cartes électroniques et les cartes multicouches destinées au marché mondial.
JIS Z 3197 Norme industrielle japonaise relative aux essais des « flux de soudure ». Évalue la corrosivité et les propriétés des résidus de flux. Choix des matériaux de soudure et vérification de leur stabilité chimique pendant le processus d’assemblage.
IEC 60068-2 Norme de la Commission électrotechnique internationale relative aux essais environnementaux. Elle définit diverses contraintes, notamment la température, l’humidité, les vibrations et les chocs. Évaluation conforme aux normes internationales de la durabilité environnementale des composants et équipements électroniques exportés dans le monde entier.
JIS C 60068-2 La version japonaise de la norme CEI 60068-2. Conforme aux normes internationales afin de garantir la cohérence des essais environnementaux. Vérification de la résistance des produits électriques et électroniques à la température, à l’humidité et aux contraintes mécaniques.
JASO D001 Norme établie par la Société japonaise des ingénieurs automobiles. Elle définit les conditions environnementales difficiles propres à l’électronique automobile. Développement et évaluation de la qualité de composants électroniques automobiles destinés aux équipementiers et fournisseurs japonais.
ISO 16750-4 Norme internationale relative aux conditions environnementales applicables aux équipements électriques et électroniques des véhicules routiers (Partie 4 : Contraintes climatiques). Évaluation de la résistance aux conditions climatiques exigée par les constructeurs automobiles mondiaux (OEM) pour les équipements embarqués.

Véhicules d’essai cibles

  • 基板

    Circuits imprimés (PCB)

  • Semiconductor

    Semi-conducteurs

  • Electric Vehicles

    Véhicules électriques (VE)

  • Electronic materials

    Matériaux électroniques

  • Lithium-ion batteries

    Batteries lithium-ion (Li-ion)

  • ガラス基板

    Substrats en verre

Facteurs contribuant à la migration électrochimique

Matériaux

Circuits imprimés rigides et circuits flexibles (FPC), tissu de verre, matériaux de sous-remplissage, films de stratification
Résines d’encapsulation et d’emballage, encres isolantes, matériaux conducteurs, adhésifs
Diélectriques intercouches, agents de nettoyage, masques de soudure, films de recouvrement

Procédés de fabrication

Résidus de placage, de flux et de gravure, contaminants / corps étrangers, trous traversants et trous de via

Conception et mise en page

Pas fin (espacement réduit), géométrie des conducteurs et des électrodes
Dégagement des trous traversants, configurations de cartes multicouches

Fonctionnement : tests ECM en temps réel

Nous mesurons en continu la résistance d’isolement en appliquant une tension à votre
des échantillons — tels que des circuits imprimés — dans un environnement contrôlé à haute température et à forte humidité.

マイグレーション試験のイメージ
マイグレーション試験のイメージ

Caractéristiques techniques

Article (Modèle) MIG-8600B/32 MIG-87B
Tension appliquée +1.0V to +250V (0.1V incréments)
Nombre maximal de canaux d’extension Jusqu’à 256 canaux 16 canaux
Plage de résistance d’isolement 105 Ω à 1 014 Ω (à 100 V)
Configuration requise pour PC OS: Compatible avec Windows 11
Alimentation électrique AC 100V, 50/60Hz, environ. 100VA AC 100V, 50/60Hz, environ. 60VA
Dimensions extérieures W 385 × D 432 × H 227 mm(À l’exclusion des saillies)
Poids Environ. 18 kg (for 32ch) Environ. 14 kg

Caractéristiques

Testeur de méthode à 1 canal, 1 alimentation et 1 circuit de mesure, sans interférence entre les échantillons

La série MIG est équipée d’un circuit d’alimentation et de mesure dédié à chaque canal, de sorte que même si une migration se produit sur un canal, les autres canaux n’en sont absolument pas affectés.

Schéma fonctionnel à 1 canal

サンプル間の影響がない1ch/1 電源/1 計測回路方式テスターを採用

Surveillance et contrôle de la tension appliquée

La tension appliquée aux différents points de soudure de chaque canal est surveillée en permanence et régulée en fonction de la valeur de consigne.

Schéma fonctionnel à 1 canal

印加電圧のモニタリング・コントロール

Mesure avec précision même les résistances élevées de 1010Ω et plus encore !

L’utilisation d’un câble de protection actif à double couche* élimine les bruits ambiants et les ronflements électriques. La précision du test de migration, qui mesure des courants faibles, s’en trouve ainsi considérablement améliorée.

10 10 Ω以上の高抵抗も精度よく測定!

* Double protection active.

Les câbles coaxiaux utilisés pour les mesures présentent les deux problèmes suivants lors de la mesure de courants très faibles.

  • (i) Courant de fuite entre la ligne de mesure et la ligne blindée.
  • (ii) Influence sur la mesure due à la capacité entre la résistance de la ligne de mesure et le fil blindé.

Nous évitons autant que possible ces effets en utilisant des fils à double blindage dans le câble de mesure et en intégrant une fonction de blindage actif. Grâce à cette conception, le fil de blindage interne est maintenu au même potentiel que la ligne de mesure, ce qui permet de neutraliser les effets de la résistance et de la capacité entre la ligne de mesure et le fil de blindage interne. Cela élimine les effets mentionnés aux points (1) et (2) ci-dessus.

Centres de test IMV pour les services ECM

Für Tests, die von anderen Unternehmen nicht durchgeführt werden können, stehen qualifizierte Mitarbeiter zur Verfügung.

Verfügbare Tests

  • Essai de vibration
    • Fünf Minuten mit dem Taxi vom Bahnhof Fujino entfernt.
    • Ca. 2 km vom Zentrum entfernt, Autobahn Sagamiko IC
  • 〒252-0185 870 Hizure, Midori-ku, Sagamihara-shi, Kanagawa, Japan

    Auf Google Maps anzeigen

Vous effectuez plus de trois tests ? L’achat d’un système de test est la solution la plus rentable.

Testeur de dégradation de l’isolation

Demande de renseignements

Idéal dans ces situations

  • Vous avez besoin de tests de migration plus précis.
  • Vous souhaitez effectuer des tests de migration au stade de la recherche et du développement.
  • Les installations existantes ne disposent pas d’un nombre suffisant de canaux.
  • Vous devez effectuer un test de migration de plus de 1 000 heures en HAST.
  • N’hésitez pas à nous consulter pour tout ce qui concerne les équipements.

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Si le formulaire n’apparaît pas, veuilleznous contacter.