
MIG-8600B
IMV's best-selling machine!. Cette unité unique peut être utilisée pour les tests de côté bas et de côté haut.
La migration est un phénomène de défaillance électrochimique dans lequel, lorsqu’une tension est appliquée dans un environnement à haute température et à forte humidité, des ions métalliques — tels que le cuivre — se dissolvent, migrent à travers l’isolant et se précipitent.
Cela entraîne la formation de dendrites conductrices entre des fils normalement isolés, ce qui provoque des courts-circuits, des coupures de circuit et une diminution de la résistance d’isolement.
En raison de la miniaturisation, de la densité accrue et des tensions plus élevées des dispositifs électroniques (par exemple, les véhicules électriques et les énergies renouvelables), la distance entre les électrodes diminue, ce qui signifie que le risque de défaillance causée par la
migration est plus élevé que jamais.
Ce test évalue la fiabilité du produit en mesurant en continu et en temps réel la résistance d’isolement tout en appliquant une tension d’essai à l’échantillon (par exemple, un circuit imprimé).
Il joue un rôle essentiel dans la prévention des rappels de produits et des incendies.
| standard | Aperçu | Applications |
|---|---|---|
| JPCA-ET | Norme de l’Association japonaise des circuits et des boîtiers électroniques. Évalue la fiabilité de l’isolation selon les critères environnementaux rigoureux en vigueur au Japon. |
Évaluation standard des circuits imprimés destinés à l’électronique grand public et à l’industrie. |
| IPC-TM-650 | Méthodes d’essai internationales établies par l’IPC (États-Unis). Elles couvrent un large éventail de propriétés physiques, chimiques et électriques des circuits imprimés. | Contrôles d’assurance qualité et de conformité pour les cartes électroniques et les cartes multicouches destinées au marché mondial. |
| JIS Z 3197 | Norme industrielle japonaise relative aux essais des « flux de soudure ». Évalue la corrosivité et les propriétés des résidus de flux. | Choix des matériaux de soudure et vérification de leur stabilité chimique pendant le processus d’assemblage. |
| IEC 60068-2 | Norme de la Commission électrotechnique internationale relative aux essais environnementaux. Elle définit diverses contraintes, notamment la température, l’humidité, les vibrations et les chocs. | Évaluation conforme aux normes internationales de la durabilité environnementale des composants et équipements électroniques exportés dans le monde entier. |
| JIS C 60068-2 | La version japonaise de la norme CEI 60068-2. Conforme aux normes internationales afin de garantir la cohérence des essais environnementaux. | Vérification de la résistance des produits électriques et électroniques à la température, à l’humidité et aux contraintes mécaniques. |
| JASO D001 | Norme établie par la Société japonaise des ingénieurs automobiles. Elle définit les conditions environnementales difficiles propres à l’électronique automobile. | Développement et évaluation de la qualité de composants électroniques automobiles destinés aux équipementiers et fournisseurs japonais. |
| ISO 16750-4 | Norme internationale relative aux conditions environnementales applicables aux équipements électriques et électroniques des véhicules routiers (Partie 4 : Contraintes climatiques). | Évaluation de la résistance aux conditions climatiques exigée par les constructeurs automobiles mondiaux (OEM) pour les équipements embarqués. |
Circuits imprimés (PCB)
Semi-conducteurs
Véhicules électriques (VE)
Matériaux électroniques
Batteries lithium-ion (Li-ion)
Substrats en verre
Circuits imprimés rigides et circuits flexibles (FPC), tissu de verre, matériaux de sous-remplissage, films de stratification
Résines d’encapsulation et d’emballage, encres isolantes, matériaux conducteurs, adhésifs
Diélectriques intercouches, agents de nettoyage, masques de soudure, films de recouvrement
Résidus de placage, de flux et de gravure, contaminants / corps étrangers, trous traversants et trous de via
Pas fin (espacement réduit), géométrie des conducteurs et des électrodes
Dégagement des trous traversants, configurations de cartes multicouches
Nous mesurons en continu la résistance d’isolement en appliquant une tension à votre
des échantillons — tels que des circuits imprimés — dans un environnement contrôlé à haute température et à forte humidité.
| Article (Modèle) | MIG-8600B/32 | MIG-87B |
|---|---|---|
| Tension appliquée | +1.0V to +250V (0.1V incréments) | |
| Nombre maximal de canaux d’extension | Jusqu’à 256 canaux | 16 canaux |
| Plage de résistance d’isolement | 105 Ω à 1 014 Ω (à 100 V) | |
| Configuration requise pour PC | OS: Compatible avec Windows 11 | |
| Alimentation électrique | AC 100V, 50/60Hz, environ. 100VA | AC 100V, 50/60Hz, environ. 60VA |
| Dimensions extérieures | W 385 × D 432 × H 227 mm(À l’exclusion des saillies) | |
| Poids | Environ. 18 kg (for 32ch) | Environ. 14 kg |
La série MIG est équipée d’un circuit d’alimentation et de mesure dédié à chaque canal, de sorte que même si une migration se produit sur un canal, les autres canaux n’en sont absolument pas affectés.
Schéma fonctionnel à 1 canal
La tension appliquée aux différents points de soudure de chaque canal est surveillée en permanence et régulée en fonction de la valeur de consigne.
Schéma fonctionnel à 1 canal
L’utilisation d’un câble de protection actif à double couche* élimine les bruits ambiants et les ronflements électriques. La précision du test de migration, qui mesure des courants faibles, s’en trouve ainsi considérablement améliorée.
Les câbles coaxiaux utilisés pour les mesures présentent les deux problèmes suivants lors de la mesure de courants très faibles.
Nous évitons autant que possible ces effets en utilisant des fils à double blindage dans le câble de mesure et en intégrant une fonction de blindage actif. Grâce à cette conception, le fil de blindage interne est maintenu au même potentiel que la ligne de mesure, ce qui permet de neutraliser les effets de la résistance et de la capacité entre la ligne de mesure et le fil de blindage interne. Cela élimine les effets mentionnés aux points (1) et (2) ci-dessus.
Für Tests, die von anderen Unternehmen nicht durchgeführt werden können, stehen qualifizierte Mitarbeiter zur Verfügung.
Verfügbare Tests
〒252-0185 870 Hizure, Midori-ku, Sagamihara-shi, Kanagawa, Japan
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