×

Test und Solutions Asia Only

Prüfung auf elektrochemische Korrosion und Ionenwanderung

Migration ist ein elektrochemisches Ausfallphänomen, bei dem sich Metallionen – wie beispielsweise Kupfer – unter Anlegen einer Spannung in einer Umgebung mit hohen Temperaturen und hoher Luftfeuchtigkeit auflösen, durch den Isolator wandern und ausfallen.
Dies führt dazu, dass sich leitfähige Dendriten zwischen normalerweise isolierten Leitern bilden, was Kurzschlüsse, Unterbrechungen und eine Verringerung des Isolationswiderstands zur Folge hat.

Aufgrund der Miniaturisierung, der erhöhten Leistungsdichte und der höheren Spannungen bei elektronischen Geräten (z. B. Elektrofahrzeuge und erneuerbare Energien) wird der Abstand zwischen den Elektroden immer geringer, was bedeutet, dass das Risiko eines Ausfalls aufgrund von
Die Migration ist höher als je zuvor.
Bei diesem Test wird die Produktzuverlässigkeit bewertet, indem der Isolationswiderstand kontinuierlich in Echtzeit gemessen wird, während das Prüfobjekt (z. B. eine Leiterplatte) einer Spannungsbelastung ausgesetzt wird.
Es spielt eine entscheidende Rolle bei der Vermeidung von Produktrückrufen und Brandfällen.

Anfragen

Wichtige Prüfnormen

Standard Übersicht Anwendungen
JPCA-ET Norm der Japan Electronics Packaging and Circuits Association.
Prüft die Zuverlässigkeit der Isolierung nach den strengen japanischen Umweltkriterien.
Standardprüfung für Unterhaltungselektronik und industrielle Leiterplatten (PCBs) im Inland.
IPC-TM-650 Internationale Prüfverfahren, die vom IPC (USA) festgelegt wurden. Sie decken ein umfassendes Spektrum an physikalischen, chemischen und elektrischen Eigenschaften von Leiterplatten ab. Qualitätssicherung und Konformitätsprüfungen für elektronische Leiterplatten und Mehrschichtleiterplatten für den globalen Markt.
JIS Z 3197 Japanische Industrienorm für die Prüfung von „Lötflussmitteln“. Bewertet die Korrosivität und die Eigenschaften von Flussmittelrückständen. Auswahl der Lötmaterialien und Überprüfung der chemischen Beständigkeit während des Montageprozesses.
IEC 60068-2 Norm der Internationalen Elektrotechnischen Kommission für Umweltprüfungen. Definiert verschiedene Belastungen, darunter Temperatur, Feuchtigkeit, Vibration und Stoßbelastung. Bewertung der Umweltbeständigkeit nach internationalen Standards für weltweit exportierte elektronische Bauteile und Geräte.
JIS C 60068-2 Die japanische Fassung der Norm IEC 60068-2. Angepasst an internationale Normen, um die Einheitlichkeit bei Umweltprüfungen zu gewährleisten. Prüfung der Beständigkeit elektrischer und elektronischer Produkte gegenüber Temperatur, Feuchtigkeit und mechanischen Belastungen.
JASO D001 Von der Society of Automotive Engineers of Japan festgelegte Norm. Legt die für die Automobilelektronik typischen rauen Umgebungsbedingungen fest. Entwicklung und Qualitätsbewertung von elektronischen Bauteilen für die Automobilindustrie für japanische Erstausrüster und Zulieferer.
ISO 16750-4 Internationale Norm bezüglich der Umgebungsbedingungen für elektrische und elektronische Geräte in Straßenfahrzeugen (Teil 4: Klimatische Belastungen). Von globalen Automobilherstellern (OEMs) geforderte Bewertung der klimatischen Beständigkeit für fahrzeugseitige Ausrüstung.

Ziel-Testfahrzeuge

  • 基板

    Leiterplatten (PCBs)

  • Semiconductor

    Halbleiter

  • Electric Vehicles

    Elektrofahrzeuge (EV)

  • Electronic materials

    Elektronische Materialien

  • Lithium-ion batteries

    Lithium-Ionen-Akkus (Li-Ion)

  • ガラス基板

    Glassubstrate

Faktoren, die zur elektrochemischen Migration beitragen

Materialien

Starre Leiterplatten und flexible Leiterplatten (FPC), Glasgewebe, Unterfüllmaterialien, Aufbaufolien
Harzverpackungen und Vergussmassen, Isolierfarben, leitfähige Materialien, Klebstoffe
Zwischenschichtdielektrika, Reinigungsmittel, Lötstopplack, Deckschichtfolien

Fertigungsverfahren

Beschichtungs-, Flussmittel- und Ätzrückstände, Verunreinigungen/Fremdkörper, Durchgangsbohrungen und Via-Bohrungen

Design & Layout

Feiner Rasterabstand (enger Abstand), Leiter- und Elektrodengeometrie
Durchsteckabstand, Konfigurationen für mehrschichtige Leiterplatten

So funktioniert es: ECM-Prüfung in Echtzeit

Wir messen den Isolationswiderstand kontinuierlich, indem wir Ihre Proben – wie beispielsweise Leiterplatten – in einer kontrollierten Umgebung mit hohen Temperaturen und hoher Luftfeuchtigkeit einer Spannungsbelastung aussetzen.

マイグレーション試験のイメージ
マイグレーション試験のイメージ

Technische Daten

Artikel (Modell) MIG-8600B/32 MIG-87B
Angewandte Spannung +1,0 V bis +250 V (in Schritten von 0,1 V)
Maximale Anzahl von Erweiterungskanälen Bis zu 256 Kanäle 16 Kanäle
Bereich des Isolationswiderstands 105 Ω bis 1014 Ω (bei 100 V)
Systemanforderungen OS: Kompatibel mit Windows 11
Stromversorgung 100 V Wechselstrom, 50/60 Hz, ca. 100 VA 100 V Wechselstrom, 50/60 Hz, ca. 60 VA
Außenmaße B 385 × T 432 × H 227 mm (ohne hervorstehende Teile)
Gewicht ca. 18 kg (für 32 Kanäle) ca. 14 kg

Funktionen

1-Kanal-/1-Stromversorgung-/1-Messkreis-Methodentester ohne gegenseitige Beeinflussung der Messungen

Die MIG-Serie verfügt über eine separate Stromversorgungs- und Messschaltung für jeden Kanal, sodass selbst bei einer Migration in einem Kanal die anderen Kanäle davon völlig unberührt bleiben.

1-Kanal-Blockschaltbild

サンプル間の影響がない1ch/1 電源/1 計測回路方式テスターを採用

Überwachung und Regelung der angelegten Spannung

Die an den einzelnen Lötpunkten jedes Kanals anliegende Spannung wird ständig überwacht und entsprechend dem eingestellten Wert geregelt.

1-Kanal-Blockschaltbild

印加電圧のモニタリング・コントロール

Misst selbst hohe Widerstände von 1010Ω und darüber hinaus!

Durch den Einsatz eines zweischichtigen Active-Guard-Kabels* werden Umgebungsgeräusche und Netzbrummen ausgeblendet. Die Genauigkeit des Migrations-Tests, bei dem schwache Ströme gemessen werden, wird dadurch erheblich verbessert.

10 10 Ω以上の高抵抗も精度よく測定!

* Doppelte Schutzfunktion.

Koaxialkabel, die für Messzwecke verwendet werden, weisen bei der Messung sehr kleiner Ströme die folgenden zwei Probleme auf.

  • (i) Leckstrom zwischen der Messleitung und der abgeschirmten Leitung.
  • (ii) Einfluss auf die Messung aufgrund der Kapazität zwischen dem Widerstand der Messleitung und dem abgeschirmten Kabel.

Wir vermeiden diese Effekte so weit wie möglich, indem wir doppelt abgeschirmte Leiter im Messkabel verwenden und zusätzlich eine aktive Abschirmungsfunktion vorsehen. Bei dieser Konstruktion wird der innere Abschirmungsleiter so gesteuert, dass er auf dem gleichen Potential wie die Messleitung liegt, wodurch den Auswirkungen von Widerstand und Kapazität zwischen der Messleitung und dem inneren Abschirmungsleiter entgegengewirkt wird. Dadurch werden die oben genannten Effekte (1) und (2) beseitigt.

IMV-Prüfzentren für ECM-Dienstleistungen

Für Tests, die von anderen Unternehmen nicht durchgeführt werden können, stehen qualifizierte Mitarbeiter zur Verfügung.

Verfügbare Tests

  • Vibrationstest
    • Fünf Minuten mit dem Taxi vom Bahnhof Fujino entfernt.
    • Ca. 2 km vom Zentrum entfernt, Autobahn Sagamiko IC
  • 〒252-0185 870 Hizure, Midori-ku, Sagamihara-shi, Kanagawa, Japan

    Auf Google Maps anzeigen

Sie führen mehr als drei Tests durch? Dann ist die Anschaffung eines Testsystems die kostengünstigste Lösung.

Prüfgerät für die Isolationsverschlechterung

Anfragen

Am besten geeignet für diese Situation

  • Sie benötigen genauere Migrationstests.
  • Sie möchten bereits in der Forschungs- und Entwicklungsphase Migrationstests durchführen.
  • In den bestehenden Einrichtungen gibt es nicht genügend Kanäle.
  • Sie benötigen einen Migrationstest von mehr als 1.000 Stunden bei HAST.
  • Sprechen Sie mit uns über die Ausstattung.

Bitte warten Sie einen Moment, bis das Formular erscheint.

Falls das Formular nicht erscheint, bitteKontaktieren Sie uns