振動数を掃引する狭帯域ランダム振動試験事例
試験概要
目的
JIS C 7506-2 (IEC 60810)「自動車用電球類-第2部：性能要求事項」において、振動耐性を評価する項目及び試験条件として振動数を掃引する狭帯域ランダム振動試験が記載されており、振動の印加中及び印加後に光源が機能し続けるかを確認します。
供試品
車載用電球
試験条件
JIS C7506-2(2015) 附属書B B1.1.2項 ヘビーデューティー試験 記載条件
1) 周波数試験：30Hz〜1050Hz
2) バンド幅：100Hz
3) 掃引域：80Hz〜1000Hz
4) 掃引速度：1オクターブ/分
5) 掃引時間：7.3分間
6) A.S.D. スペクトラム：
80Hz〜150Hz 34.57 m2/s4/Hz
150Hz〜1000Hz 8.64 m2/s4/Hz
7) 加速度の公差：±1 dB
8) 試験時間：20時間
試験内容
ランダム-オン-ランダム試験用のソフトを用いて、ベースのASDレベルを試験レベルに対して極小さいレベルに設定。
このベースとなるランダム振動に対して規格記載の目標数値に沿った狭帯域ランダム振動成分を重ね合わせるプログラムを作成することで、疑似的に一定のバンド幅を持ったランダム振動成分を掃引させる試験を実現しました。
