高速度カメラによる振動の可視化事例

試験概要

目的

センサを取りつけることのできない、小型電子部品の挙動を高速度カメラで可視化し、周波数分析を実施する。
部品同士の干渉を確認する。

供試品

【品名】電子基板（※下記に画像あり）

試験条件

【振動の種類】ランダム振動試験
【振動数範囲】10.0～250.0Hz
【加速度レベル】2Grms

測定結果

各部品の挙動を目視で確認し、動画から周波数分析と変位測定を行った。（※下記に画像あり）

その他の用途

1.振動制御器(K2)と連動させ、カメラ映像から算出した低周波数域変位量をK2で表示（最大5点）。
2.耐久試験中の破壊の瞬間を撮影。
3.Avi形式であれば、他のカメラで撮影した動画も解析可能。
4.ドローンの振動・衝撃試験後のプロペラ部を撮影し確認する。
5.落下試験時の衝突時の挙動確認 等。

電子基板

測定結果イメージ図

測定結果イメージ動画

その他の用途：4のイメージ動画１

その他の用途：4のイメージ動画２

試験メモ

使用試験設備

メーカー：㈱フォトロン
画像収録ソフト：PFV
画像解析ソフト：TEMA
画像収録、収録　K2連動ソフト：IDPR2000