絶縁劣化評価試験器（MIG-8600B）
IMV のベストセラー機！この 1 台でローサイド・ハイサイド両方の対応が可能。
MIG（マイグレーション）受託試験
IMVが開発したマイグレーションテスターを使って、お客様の信頼性試験をサポートします。
こんな時は是非問い合わせください！
- より高精度なマイグレーション試験の要求がある。
- 研究開発段階のマイグレーション試験が行いたい。
- 既設の設備ではチャンネル数が足りない。
- HASTで1,000時間を超えるマイグレーション試験の要求がある。
- 装置を買う予算はないが、マイグレーション試験は行わなければならない。
- 治具の相談をしたい。
試験品対象例
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基盤
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半導体
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電気自動車
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電子材料
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リチウムイオン電池
特長
サンプル間の影響がない1ch/1 電源/1 計測回路方式テスターを採用
MIGシリーズは印加電源、測定回路を各チャンネルに個別搭載しているので1チャンネルでマイグレーショグレーションが発生しても他のチャンネルは一切影響を受けません。
1チャンネル ブロック図
印加電圧のモニタリング・コントロール
チャンネルごとに個別のハンダ付けのポイントでの印加電圧を常時モニタリングし、設定値通りにコントロールしています。
1チャンネル ブロック図
1010Ω以上の高抵抗も精度よく測定!
二重構造アクティブガードケーブル※を使用することで、周囲のノイズや商用ハムをカットします。よって微弱な電流を測定するマイグレーション試験の精度が大幅に向上します。
※ 二重アクティブガード
一般的に測定に用いられる同軸ケーブルでは、微小電流を測定する際に下記の2つが問題になることがあります。
- ① 測定ラインとシールド線との間の漏れ電流
- ② 測定ラインの抵抗とシールド線との間の容量による時定数の測定への影響
当社では測定ケーブルに二重シールド線を採用し、さらにアクティブガード機能も持たせることで、この影響を極力回避させています。 この構造では内側のシールド線を測定ラインと同じ電位に保つようコントロールすることで、測定ラインと内側シールド線との間の抵抗・容量の影響を打ち消すことができます。（電位差がなくなるので、電流も流れないし、容量成分を充電する必要もありません。）このことにより、上記①②による測定への影響を排除することができます。
試験装置
絶縁劣化評価試験器
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